吉时利增强了S530参数测试系统的测量功能

• 来源期刊: 中国集成电路
• 学科: 工学
• 关键词: 吉时利仪器公司 参数测试系统 测量功能 半导体行业 测试方案 生产参数 测试环境 脉冲发生
• 年，卷（期）: 2012,（4）
• 页码范围: 72-72
• 页数: 1页
• 分类号: TN312.8
• 字数: 177字
• 语种: 中文

摘要

近日,吉时利仪器公司不断增强半导体行业性价比最高的高速生产参数测试方案--S530参数测试系统的功能。由于有吉时利测试环境软件（KTEV5.4）的支持,S530目前配置为48引脚全Kelvin开关以及脉冲发生、频率测量和低电压测量的新型集成选件。