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摘要:
以双面飞针测试系统为例,介绍了飞针测试的主要工艺技术,并详细介绍了Z轴机构的设计改进过程。
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文献信息
篇名 飞针测试工艺研究及Z轴结构设计
来源期刊 电子工业专用设备 学科 工学
关键词 飞针测试 测试工艺 Z轴结构
年,卷(期) 2012,(5) 所属期刊栏目 封装技术与设备
研究方向 页码范围 14-18
页数 5页 分类号 TN606
字数 1458字 语种 中文
DOI 10.3969/j.issn.1004-4507.2012.05.005
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 赵立华 中国电子科技集团公司第四十五研究所 9 8 2.0 2.0
2 吕磊 中国电子科技集团公司第四十五研究所 13 20 3.0 3.0
3 谭立杰 中国电子科技集团公司第四十五研究所 11 20 3.0 4.0
传播情况
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引文网络
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二级参考文献  (0)
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同被引文献  (1)
二级引证文献  (2)
1996(1)
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2002(1)
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2017(1)
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  • 二级引证文献(1)
研究主题发展历程
节点文献
飞针测试
测试工艺
Z轴结构
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工业专用设备
双月刊
1004-4507
62-1077/TN
大16开
北京市朝阳区安贞里三区26号浙江大厦913室
1971
chi
出版文献量(篇)
3731
总下载数(次)
31
总被引数(次)
10002
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