IC设计综合工具DC应用中的混沌现象研究

• 作者: 喻建军 李文石 李雷
• 来源期刊: 中国集成电路
• 学科: 工学
• 关键词: DC 混沌 输入自变量 输出自变量
• 年，卷（期）: 2012,（11）
• 所属期刊栏目: 设计
• 页码范围: 27-32
• 页数: 6页
• 分类号: TP918.8
• 字数: 2502字
• 语种: 中文

摘要

实验评估了“混沌”在商业化IC实现工具Dc应用中的特性表现。方法是故意输入原本可以忽略不计的输入参数（自变量）扰动，记录与观察输出参数（因变量）质量的差异。统计实验结果，寻找输入自变量及输出因变量之间的非线性联系。基本结果是典型混沌现象的数量关系有如最坏的时序余量WNS（ns）与时钟微扰ClockCycleNoise（ps）显现非线性函数关系（存在劣解或优值）；关键结论是小输入扰动下在DE中运行同一电路多批（大于等于3），方便得到高质量的解决方案（基于TSMC65nm工艺）。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	李文石	苏州大学电子信息学院微电子学系	63	284	10.0	13.0
2	李雷	苏州大学电子信息学院微电子学系	53	291	10.0	14.0
3	喻建军	苏州大学电子信息学院微电子学系	1	1	1.0	1.0