薄膜电容器介电强度分析

• 作者: 曹桂华
• 来源期刊: 电子质量
• 关键词: 电容器的介电强度 击穿电压 试验电压 工作电压
• 年，卷（期）: 2012,（6）
• 所属期刊栏目: 测试测量技术
• 页码范围: 28-30
• 页数: 3页
• 分类号: TM53
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1003-0107.2012.06.009

摘要

薄膜电容器是电子仪器中常用的电子元器件,主要用于电视机、显示器、空调、通讯设备、冰箱等设备中。该文介绍了电容器介电强度的概念、电容器介电强度的几个参数即击穿电压、工作电压、试验电压,以及它们之间的关系,介绍了电容器击穿的三种形式即瞬时电压作用下电容器的击穿、电容器的热击穿、在长期电压作用下电容器的击穿——老化击穿。并结合生产实际,总结了提高电容器介电强度的方法。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	曹桂华		3	14	3.0	3.0