航天继电器加速贮存退化可靠性建模和统计分析

• 作者: 任万滨 王召斌 翟国富 蔡昭文 黄晓毅
• 来源期刊: 低压电器
• 学科: 工学
• 关键词: 航天继电器 贮存 可靠性 退化 接触电阻 统计分析
• 年，卷（期）: 2012,（17）
• 所属期刊栏目: 研究与分析
• 页码范围: 1-7
• 分类号: TM581.3
• 字数: 3849字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1001-5531.2012.17.001

摘要

以某型号航天继电器为例,通过对失效机理及其接触退化规律的分析,建立贮存退化失效可靠性统计模型,给出了航天继电器接触寿命分布函数.研制了温度应力航天继电器加速贮存退化试验测试系统,可同时对多达40个继电器进行全自动的退化参数监测.试验结果表明,接触电阻的退化情况和统计分析,确定了各试验温度应力下接触电阻的分布情况,并通过最佳线性无偏估计(BLUE)法进行了参数估计,为进一步对航天继电器贮存可靠性评估和贮存寿命预测提供了参考和依据.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	翟国富	哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院	280	2576	26.0	34.0
2	任万滨	哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院	65	592	15.0	21.0
3	王召斌	哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院	14	56	2.0	7.0
7	蔡昭文		4	15	1.0	3.0
8	黄晓毅	哈尔滨工业大学电气工程及自动化学院	3	22	2.0	3.0