RFID标签芯片验证平台

• 作者: 李晶晶 王德明 胡建国 谭洪舟
• 来源期刊: 微电子学与计算机
• 关键词: RFID 覆盖率 受约束的 随机激励 自动检查
• 年，卷（期）: 2012,（10）
• 页码范围: 144-147
• 分类号: TN47
• 语种: 中文

摘要

RFID（Radio Frequency Identification）标签芯片命令及其帧格式多样,增加了验证的复杂性,而且验证充分性难以得到保障.为了能够高效地验证RFID标签芯片以及解决验证充分性的问题,提出了一种基于覆盖率和受约束的随机激励的面向对象的功能验证平台设计方法.验证平台不仅能对单条命令进行验证,也能对特定的和随机的命令流进行验证,并自动检查验证结果.实践表明,该验证平台大大提高了验证生产率,保证了流片后芯片功能的正确性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	谭洪舟	中山大学信息科学与技术学院	55	276	8.0	12.0
2	李晶晶	中山大学信息科学与技术学院	19	84	5.0	8.0
3	胡建国	中山大学信息科学与技术学院	5	32	3.0	5.0
4	王德明	中山大学信息科学与技术学院	2	11	2.0	2.0