力旺电子65纳米嵌入式MTP IP NeoEE通过验证

• 来源期刊: 中国集成电路
• 学科: 工学
• 关键词: 纳米工艺 嵌入式 验证 电子 MTP Times 国际领先 可编程
• 年，卷（期）: 2012,（9）
• 所属期刊栏目: 业界要闻
• 页码范围: 11-11
• 页数: 1页
• 分类号: TQ221.212
• 语种: 中文

摘要

力旺电子宣布，其嵌入式多次可编程（Multiple Times Programmable，MTP）内存IPNeoEE，已于国际领先晶圆代工厂的65纳米工艺平台通过电性验证，预计将于2012年年底完成可靠度验证；