一种用于器件模型参数提取的芯片测试数据的获取方法

• 作者: 宋文斌
• 来源期刊: 电子世界
• 学科: 工学
• 关键词: MOS器件 模型参数 参数提取 数据测试
• 年，卷（期）: 2012,（5）
• 所属期刊栏目: 科研发展
• 页码范围: 102-104
• 分类号: TN407
• 字数: 1176字
• 语种: 中文

摘要

半导体器件的建模及模型参数提取是电子设计自动化(EDA)领域的关键性工作.要提取器件参数,获取并处理复杂繁重的测量数据是前提条件,也是非常重要的一个环节,如何简单有效的提取并处理参数提取测试数据就显得格外重要.本文提出了简单易用的用于器件模型参数提取的测试数据的获取方法.实验证明,该方法可以有效的获取大量繁杂的测试数据,具有较高的精确度,而且简单易用,适合推广使用.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	宋文斌		12	28	2.0	5.0