长度可调的纳米线阵列近红外减反射特性

• 作者: 田梦君 胡培军 陈俊
• 来源期刊: 科学技术与工程
• 学科: 工学
• 关键词: 纳米线阵列 减反射 近红外
• 年，卷（期）: 2012,（10）
• 所属期刊栏目: 通信技术
• 页码范围: 2306-2309
• 分类号: TN304.12
• 字数: 2051字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1671-1815.2012.10.013

摘要

采用金属催化化学腐蚀方法在单晶硅表面制备了有序的纳米线阵列.研究了纳米线长度与腐蚀时间之间的关系.发现纳米线长度随着腐蚀时间的增加而增大.测试了所制备的具有纳米线阵列的硅表面在近红外1 000 nm～2 500 nm范围内的减反射性能.测试结果表明,与未处理的光滑硅表面相比,具有纳米线阵列的表面的反射率大辐降低；并随着纳米线长度的增加,反射率减小.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	田梦君	西北工业大学机电学院	33	211	8.0	13.0
2	陈俊	西北工业大学机电学院	15	29	4.0	4.0
3	胡培军	西北工业大学机电学院	2	2	1.0	1.0