有序介孔碳-壳聚糖修饰玻碳电极差分脉冲溶出伏安法测定痕量锡(Ⅱ)

• 作者: 齐同喜 齐蕾
• 来源期刊: 分析科学学报
• 学科: 化学
• 关键词: 有序介孔碳 壳聚糖 修饰玻碳电极 锡(Ⅱ)
• 年，卷（期）: 2013,（5）
• 所属期刊栏目: 研究简报
• 页码范围: 689-692
• 分类号: O657.15
• 语种: 中文

摘要

将有序介孔碳(OMC)分散于壳聚糖(CTS)溶液,并用于修饰玻碳电极,制成有序介孔碳-壳聚糖修饰玻碳电极(OMC-CTS/GCE),用差分脉冲溶出伏安法研究锡(Ⅱ)在该电极上的溶出伏安特性.实验发现,在1.0 mol/L盐酸中,锡(Ⅱ)在-1.2V处被富集在修饰电极表面,在0.0～+1.0V电位范围,以100 mV/s的速率扫描,锡(Ⅱ)在+0.35 V处产生一灵敏的溶出峰,峰电流与锡(Ⅱ)的浓度在5.0×10-8～1.0×10-5mol/L范围内呈良好的线性关系,检出限(S/N=3)为2.2×10-9 mol/L.方法用于合金中痕量锡(Ⅱ)的测定,结果同火焰原子吸收光谱法(FAAS)测定结果一致.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	齐同喜	山东理工大学化学工程学院	18	48	4.0	6.0
2	齐蕾	济南大学化学化工学院	4	3	1.0	1.0