一种消除浮空点的多功能稳定性检测器

• 作者: 常郝 徐辉 李志杰 梁华国 汪静 黄正峰
• 来源期刊: 新能源进展
• 学科: 工学
• 关键词: 浮空态 可靠性 稳定性检测器 多功能
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 所属期刊栏目: 论文
• 页码范围: 212-217
• 页数: 6页
• 分类号: TP302.8
• 字数: 2673字
• 语种: 中文

摘要

随着纳米工艺的不断发展,可靠性成为集成电路设计中主要的挑战,特别是像航空,航天和军事等高科技领域.在深亚微米工艺中,老化效应和软错误是影响电路可靠性的重大因素,业界虽己对此做过研究,但是大部分都是把它们分开处理,它们中的大多数结构工作时都存在一个或多个点处于浮空态,存在严重的电荷衰减问题,尤其易受干扰,大大影响了检测结果的准确性.本文提出一种新的机制,采用一种低功耗的多功能稳定性检测器来同时解决老化,软错误和延迟故障,特别是它彻底解决了浮空点问题.利用Hspice仿真工具得到的实验结果表明该结构具有良好的性能和面积权衡,其功耗开销比参照结构节约超过35％.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	梁华国	合肥工业大学电子与应用物理学院	192	1611	19.0	30.0
2	黄正峰	合肥工业大学电子与应用物理学院	101	590	14.0	19.0
3	徐辉	合肥工业大学计算机与信息学院	10	59	4.0	7.0
4	常郝	合肥工业大学计算机与信息学院	10	80	6.0	8.0
5	汪静	合肥工业大学计算机与信息学院	15	45	5.0	6.0
6	李志杰	合肥工业大学计算机与信息学院	11	49	5.0	6.0