质子照相成像光束线的研究

• 作者: 魏涛
• 来源期刊: 中国工程物理研究院科技年报
• 学科: 物理学
• 关键词: 辐射成像技术 质子照相 光束线 带电粒子 相互作用 穿透能力 物理诊断 定量测量
• 年，卷（期）: 2013,（1）
• 页码范围: 135-137
• 页数: 3页
• 分类号: O441

摘要

经典辐射成像技术通常采用不带电粒子作为辐射源，如X射线，利用它较强的穿透能力以及它与物质相互作用的特性，可以对客体及其内部结构进行定量测量和物理诊断。