微波印刷板电路基片复介电常数测量研究

• 作者: 卜玲慧 向博 窦文斌
• 来源期刊: 宇航计测技术
• 学科: 工学
• 关键词: 介电常数 损耗角正切 +带状线 TRL校准技术
• 年，卷（期）: 2013,（5）
• 页码范围: 12-18
• 页数: 7页
• 分类号: TM931
• 字数: 3194字
• 语种: 中文

摘要

本文研究传输线法测量微波印刷板电路基片的复介电常数.该方法以矢量网络分析仪作为测量仪器,使用与同轴测量端口相匹配的带状线传输线作为待测结构.带状线的复介电常数信息反映在其特征阻抗和复传播常数中,特征阻抗和复传播常数可由其ABCD矩阵得到.由矢量网络分析仪测量得到的二端口散射矩阵(即S参数矩阵)可直接转换为ABCD矩阵,由此求出介质基片的复介电常数.为得到带状线正确的S参数,需要对测量系统进行校准.本文采用由TRL校准原理衍生而来的校准方法做校准.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	窦文斌	东南大学毫米波国家重点实验室	42	241	8.0	13.0
2	向博	东南大学毫米波国家重点实验室	4	34	3.0	4.0
3	卜玲慧	东南大学毫米波国家重点实验室	1	2	1.0	1.0