创造新的测试价值——访北京华峰测控技术有限公司ACCOTEST事业部副总经理徐捷爽先生

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篇名	创造新的测试价值——访北京华峰测控技术有限公司ACCOTEST事业部副总经理徐捷爽先生
来源期刊	中国集成电路	学科
关键词
年，卷（期）	2013,（3）	所属期刊栏目	高端访谈
研究方向		页码范围	34-35,73
页数	3页	分类号
字数	3249字	语种	中文
DOI