平板导体脉冲涡流场时域解与测厚特征量的提取

• 作者: 陈兴乐 雷银照
• 来源期刊: 电工技术学报
• 学科: 工学
• 关键词: 脉冲涡流 时域解析式 测厚 涡流检测 电磁场理论
• 年，卷（期）: 2013,（6）
• 所属期刊栏目: 电工理论
• 页码范围: 1-8
• 页数: 8页
• 分类号: TM15
• 字数: 4201字
• 语种: 中文

摘要

本文求解了脉冲电流下降沿激励下平板导体涡流场时域模型,给出一种可测量板厚的信号特征量提取方法.利用拉普拉斯变换和有限汉克尔变换求解得到了截断涡流场模型在复频域中级数形式的场量表达式.利用留数定理求解拉普拉斯反变换,并利用电流对时间的导数与模型阶跃响应作卷积求解电流下降沿涡流场时域模型.给出了导体内涡流密度随时间的变化规律及其与感应电压之间的关系,并以有限厚平板导体与半无限大导体之间的感应电压差峰值时间作为特征量测量板厚.实验验证了解析式和测厚特征量的可靠性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	雷银照	北京航空航天大学自动化科学与电气工程学院	33	438	9.0	20.0
2	陈兴乐	北京航空航天大学自动化科学与电气工程学院	6	52	5.0	6.0