X射线光电子能谱在HTPB推进剂老化机理研究中的应用

• 作者: 李泽华 杨万均 罗天元 魏小琴 黄文明
• 来源期刊: 装备环境工程
• 学科: 工学
• 关键词: X射线光电子能谱 固体推进剂 老化机理
• 年，卷（期）: 2013,（5）
• 页码范围: 52-57
• 页数: 6页
• 分类号: TQ317.6
• 字数: 3918字
• 语种: 中文
• DOI: 10.7643/issn.1672-9242.2013.05.011

摘要

采用X射线光电子能谱（XPS）法研究了HTPB推进剂在80℃热空气烘箱内分别老化0周、13周和24周的元素组成、化学价态及含量变化。通过拟合C，O，N，Cl等元素的XPS谱图，推测该推进剂在常温（25℃）贮存老化初期应是氧化交联，后期则出现降解断链，并认为NH4ClO4缓慢分解，攻击C??C不饱和双键，使得C??C双键含量降低是HTPB推进剂老化失效的主要原因。Al粉被包裹在推进剂粘合剂内部，XPS法未能检出Al粉。由于Al粉比较稳定，不参与推进剂老化过程，故XPS仍可用于HTPB推进剂老化机理研究。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	罗天元		6	54	4.0	6.0
5	魏小琴		8	17	3.0	4.0
9	杨万均		12	37	4.0	5.0
13	黄文明		3	16	3.0	3.0