TFT-LCD中Ioff-p与画面闪烁关系的研究

• 作者: 刘家荣 姚之晓 林鸿涛 王明超 王章涛 邵喜斌
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: TFT-LCD 闪烁 光照漏电流 亮度 像素电压
• 年，卷（期）: 2013,（2）
• 所属期刊栏目: 器件物理及器件制备技术
• 页码范围: 215-219
• 页数: 5页
• 分类号: TN141.9
• 字数: 3253字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/YJYXS20132802.0215

摘要

为研究画面闪烁与光照漏电流(Ioff-p)的关系,文章进行了一系列的实验.首先利用色彩分析仪(CA310)分别测试了3张面板正、反两面的闪烁.其次通过测量闪烁随背光源亮度的变化研究了其与光照的关系.同时还采用光敏放大器测试了面板正、反两面闪烁画面下的亮度信号,并给出了原理性解释.最后采用半导体参数设备对TFT进行了I-V特性测试.所有的实验结果均表明,Ioff-p过大能够导致像素电压无法有效保持,从而使正负帧的亮度产生较大差异,最后造成闪烁偏高.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王章涛		4	25	3.0	4.0
2	邵喜斌		5	40	4.0	5.0
3	姚之晓		3	24	3.0	3.0
4	王明超		3	24	3.0	3.0
5	林鸿涛		4	39	4.0	4.0
6	刘家荣		3	24	3.0	3.0