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64K之梦
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摘要：
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64K CMOS 随机存储器瞬时辐射损伤模式分析
随机存储器
剂量率
翻转阈值
路轨塌陷
基于64K通道的继电保护缺陷分析与改进
继电保护
光纤通信
通道故障
64K
PCM
双路由
总剂量辐照加固的PDSOI CMOS 64k静态随机存储器
部分耗尽SOI
静态随机存储器
总剂量
辐照
P64K型棚车脱轨事故原因分析及改进建议
P64K型棚车
脱轨
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期刊影响力
中国信息技术教育
主办单位：
教育部中央电化教育馆
北京中图联文化教育开发中心
出版周期：
半月刊
ISSN：
1674-2117
CN：
11-5678/TP
开本：
大16开
出版地：
北京市
邮发代号：
82-676
创刊时间：
2000
语种：
chi
出版文献量（篇）
20085
总下载数（次）
32
总被引数（次）
27293
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