航天器空间ESD干扰单机级试验方法研究

• 作者: 代佳龙 冯伟泉 李庆 王志浩 赵春晴
• 来源期刊: 装备环境工程
• 学科: 航空航天
• 关键词: 静电放电 单机 结构电流 试验
• 年，卷（期）: 2013,（3）
• 页码范围: 16-20
• 页数: 5页
• 分类号: V416.5
• 字数: 2453字
• 语种: 中文
• DOI: 10.7643/issn.1672-9242.2013.03.005

摘要

在轨状态下，卫星表面材料与空间环境交互作用，会引起材料表面带电，继而发生静电放电（ESD），产生的电磁干扰会经由单机电缆耦合进入电子电路中，形成干扰脉冲甚至损毁电子器件。针对卫星用单机产品，给出了一种可行的空间ESD电缆耦合干扰试验方法，通过电缆耦合的方式模拟空间ESD对单机产品的干扰。研究表明该试验方法能够有效暴露产品设计的薄弱环节，为优化设计、提升单机抗扰能力提供依据。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	赵春晴		26	136	6.0	10.0
2	冯伟泉		51	318	10.0	15.0
4	代佳龙		7	15	2.0	3.0
5	王志浩		19	41	5.0	5.0
8	李庆		4	7	2.0	2.0