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摘要:
设计了基于FPGA的E3速率等级的误码仪(E3-BER),由伪随机码产生模块、两路信号比较模块、计数模块和显示模块4部分构成,分别用E3-BER和SDH分析仪(ANT-5)测试了基于FPGA的SDH E3复用/解复用系统,在相同的测量时间内(1星期),误码均为0.测试结果间接验证了设计的正确性.
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文献信息
篇名 基于FPGA的E3误码仪的设计与应用
来源期刊 光通信技术 学科 工学
关键词 现场可编程门阵列 同步数字系列 E3 误码仪
年,卷(期) 2013,(1) 所属期刊栏目 光器件
研究方向 页码范围 51-52
页数 2页 分类号 TN914.3
字数 689字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 胡辽林 西安理工大学机械与精密仪器工程学院 29 149 7.0 11.0
2 刘雪峰 西安理工大学机械与精密仪器工程学院 2 4 1.0 2.0
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研究主题发展历程
节点文献
现场可编程门阵列
同步数字系列
E3
误码仪
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
光通信技术
月刊
1002-5561
45-1160/TN
大16开
广西桂林市5号信箱
48-126
1977
chi
出版文献量(篇)
4439
总下载数(次)
8
总被引数(次)
17658
论文1v1指导