电焊尘颗粒物致NIH/3T3细胞遗传物质损伤作用的研究

• 作者: 刘艳明 吴永会 周簪荣 王玥
• 来源期刊: 中国工业医学杂志
• 学科: 医学
• 关键词: 电焊尘颗粒物 DNA损伤 细胞毒性
• 年，卷（期）: 2013,（3）
• 所属期刊栏目: 实验研究
• 页码范围: 195-197
• 页数: 3页
• 分类号: R994
• 语种: 中文

摘要

以某电机厂电焊尘采集物为受试物(受试物浓度分别为100.00 μg/ml、200.00 μg/ml、300.00 μg/ml、400.00μg/ml、500.00μg/ml、0.00μg/ml),用噻唑蓝(MTT)染色的方法检验作用12 h、24h、36 h的细胞相对存活率；单细胞凝胶电泳技术检测作用2h、4h、8h的细胞DNA损伤情况.结果显示,随着染毒时间的延长和染毒剂量的增加,细胞存活率下降,在浓度为500.00μg/ml的颗粒物作用细胞36 h后,细胞的存活率仅为19.02％；电焊尘颗粒物的各浓度组在不同时间诱导的细胞拖尾率和尾部DNA含量均高于阴性对照组,差异有统计学意义(P＜0.05).提示电焊尘颗粒物可以降低哺乳动物细胞的相对存活率,并导致NIH/3T3细胞不同程度的DNA损伤.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴永会		59	137	7.0	8.0
2	王玥		44	117	5.0	10.0
3	周簪荣		1	0	0.0	0.0
4	刘艳明		1	0	0.0	0.0