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激光干涉仪线性测长的准直调节方法
激光干涉仪线性测长的准直调节方法
作者:
曹国斌
李永珍
王晓奎
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
激光干涉仪
光路准直
精密测量
摘要:
概述了激光干涉仪在半导体工艺设备精度分析领域的应用,简单介绍了光路准直对线性测长的影响.依据激光干涉仪的准直测量原理,详细介绍了激光干涉仪准直的调节方法.
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文献信息
篇名
激光干涉仪线性测长的准直调节方法
来源期刊
电子工业专用设备
学科
工学
关键词
激光干涉仪
光路准直
精密测量
年,卷(期)
2013,(1)
所属期刊栏目
测试测量技术与设备
研究方向
页码范围
34-38
页数
5页
分类号
TH705
字数
3219字
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
G指数
1
曹国斌
中国电子科技集团公司第二研究所
13
70
2.0
8.0
2
王晓奎
中国电子科技集团公司第二研究所
6
8
2.0
2.0
3
李永珍
中国电子科技集团公司第二研究所
3
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2.0
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二级引证文献(0)
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引证文献(1)
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节点文献
激光干涉仪
光路准直
精密测量
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
电子工业专用设备
主办单位:
中国电子科技集团公司第四十五研究所
出版周期:
双月刊
ISSN:
1004-4507
CN:
62-1077/TN
开本:
大16开
出版地:
北京市朝阳区安贞里三区26号浙江大厦913室
邮发代号:
创刊时间:
1971
语种:
chi
出版文献量(篇)
3731
总下载数(次)
31
总被引数(次)
10002
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