多台同型产品同步纠正可靠性增长试验数据统计分析方法研究

• 作者: 朱旭洋 潘骏 王孟 许锐敏 陈文华 靳方建
• 来源期刊: 中国机械工程
• 学科: 航空航天
• 关键词: 可靠性增长 AMSAA模型 AMSAA-BISE模型 多台同型产品 同步纠正 多层Bayes估计
• 年，卷（期）: 2013,（11）
• 所属期刊栏目: 科学基金
• 页码范围: 1500-1504
• 页数: 5页
• 分类号: V240.2
• 字数: 4786字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1004-132X.2013.11.016

摘要

多台同型产品同步纠正可靠性增长试验所得到的数据是单失效数据,依据美军标/国军标和AMSAA-BISE模型得到的分析结果,该数据往往高于产品实际可靠性水平.针对这种情况,提出一种数据统计分析的新方法,即先采取多层Bayes估计法和加权最小二乘估计法,求得各个失效发生时间的期望值,替代单台AMSAA模型中的失效时间,再实现对产品可靠性增长试验数据的统计分析.通过对以上方法进行蒙特卡罗模拟,对比分析结果表明,利用新方法所得结果更接近产品的实际可靠性水平.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	潘骏	浙江理工大学浙江省机电产品可靠性技术研究重点实验室	52	410	11.0	18.0
2	陈文华	浙江理工大学浙江省机电产品可靠性技术研究重点实验室	102	785	14.0	23.0
3	许锐敏	浙江理工大学浙江省机电产品可靠性技术研究重点实验室	3	10	2.0	3.0
4	王孟	浙江理工大学浙江省机电产品可靠性技术研究重点实验室	3	10	2.0	3.0
5	朱旭洋	浙江理工大学浙江省机电产品可靠性技术研究重点实验室	3	14	3.0	3.0
6	靳方建	浙江理工大学浙江省机电产品可靠性技术研究重点实验室	1	5	1.0	1.0