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摘要:
采用CVD法成功合成了高质量单晶In2 Ge2 O7纳米带,采用高分辨透射电子显微镜(HRTEM)图像以及X射线衍射(XRD),能谱元素分布图像等对产物进行了表征.结果表明,生长的纳米带长几十微米、厚度50 nm,几乎没有缺陷且In,Ge,O元素分布均匀.此外,基于热力学原理对单晶纳米带的生长机制进行了讨论.
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关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 高质量单晶In2Ge2O7纳米带的合成和生长机制探究
来源期刊 人工晶体学报 学科 化学
关键词 In2Ge2O7 纳米带 合成 生长机制
年,卷(期) 2013,(12) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 2568-2571
页数 4页 分类号 O643
字数 1865字 语种 中文
DOI
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研究主题发展历程
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In2Ge2O7
纳米带
合成
生长机制
研究起点
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引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
人工晶体学报
月刊
1000-985X
11-2637/O7
16开
北京朝阳区红松园1号中材人工晶体研究院,北京733信箱
1972
chi
出版文献量(篇)
7423
总下载数(次)
16
总被引数(次)
38029
相关基金
国家自然科学基金
英文译名:the National Natural Science Foundation of China
官方网址:http://www.nsfc.gov.cn/
项目类型:青年科学基金项目(面上项目)
学科类型:数理科学
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