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摘要:
采用磁控溅射方法制备Ni50.3Mn27.3Ga22.4磁性形状记忆合金薄膜.系统研究薄膜的马氏体相交行为、磁场增强相变应变特性以及温度对磁感生应变的影响.试验结果表明,经823 K退火1h的Ni50.3Mn27.3Ga22.4薄膜室温下处于奥氏体态,马氏体相变开始温度为271.5 K.当沿膜面方向施加0-0.8 T磁场时,Ni50.3Mn27.3Ga22.4薄膜的马氏体相变应变量随磁场强度的增大而增大,呈现出磁场增强马氏体相交应变效应.试验还发现,饱和磁感生应变显著依赖于测试温度.当测试温度低于拟马氏体相变结束温度时,饱和磁感生应变随温度的升高先缓慢增大,在马氏体相变开始温度附近磁感生应变值发生跳跃式增加,然后随测试温度的进一步升高而降低.
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内容分析
关键词云
关键词热度
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文献信息
篇名 Ni50.3Mn27.3Ga22.4磁性形状记忆合金薄膜的磁性能研究
来源期刊 科学技术与工程 学科 工学
关键词 NiMnGa 形状记忆合金 薄膜 马氏体相交
年,卷(期) 2013,(18) 所属期刊栏目 论文
研究方向 页码范围 5132-5134,5196
页数 4页 分类号 TG111.92
字数 2176字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 牟海维 东北石油大学电子科学学院 97 259 7.0 10.0
2 刘超 东北石油大学电子科学学院 79 253 8.0 12.0
3 孙祺 东北石油大学电子科学学院 10 26 3.0 4.0
4 艾瑞波 齐齐哈尔大学理学院 18 45 4.0 6.0
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节点文献
NiMnGa
形状记忆合金
薄膜
马氏体相交
研究起点
研究来源
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科学技术与工程
旬刊
1671-1815
11-4688/T
大16开
北京市海淀区学院南路86号
2-734
2001
chi
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