改善高压FRD结终端电流丝化的新结构

• 作者: 吴立成 吴郁 查祎影 胡冬青 贾云鹏 金锐 魏峰
• 来源期刊: 电子科技
• 学科: 工学
• 关键词: 快恢复二极管 动态雪崩 电流丝 终端结构
• 年，卷（期）: 2013,（10）
• 所属期刊栏目: 电子·电路
• 页码范围: 98-100,104
• 页数: 4页
• 分类号: TN312+.4
• 字数: 1420字
• 语种: 中文

摘要

动态雪崩问题是影响高压硅功率二极管如高压快恢复二极管(FRD)坚固性的一个主要因素.文中通过仿真计算,比较了高压FRD两种不同终端结构的动态雪崩特性.结果表明,横向变掺杂2(VLD)终端结构的动态雪崩耐量比结终端延伸(JTE)结构更优.为改善后者动态雪崩过程中结终端处的电流丝化问题,文中提出改用p+/p阳极结构中的P型缓冲层做介于有源区与终端区之间的电阻区.仿真结果表明,相应的电流丝化问题可得到显著缓解.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	吴郁	北京工业大学电子信息与控制工程学院	38	215	9.0	13.0
2	胡冬青	北京工业大学电子信息与控制工程学院	27	114	7.0	9.0
3	贾云鹏	北京工业大学电子信息与控制工程学院	16	107	7.0	9.0
4	金锐		11	77	5.0	8.0
5	魏峰	北京工业大学电子信息与控制工程学院	3	8	2.0	2.0
6	吴立成	北京工业大学电子信息与控制工程学院	2	5	1.0	2.0
7	查祎影	北京工业大学电子信息与控制工程学院	1	4	1.0	1.0