硬X光弯晶谱仪的定量化标定方法

• 作者: 刘慎业 徐涛 杨国洪 王峰 苏明 韦敏习
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 工学
• 关键词: 透射弯晶 硬X光 定量化标定 绝对效率
• 年，卷（期）: 2013,（10）
• 所属期刊栏目: ICF与激光等离子体
• 页码范围: 2611-2615
• 页数: 5页
• 分类号: TN247
• 字数: 2549字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/HPLPB20132510.2611

摘要

介绍了具有定量化测量能力的硬X光弯晶谱仪的结构,利用Mo靶X光管的K特征线作为标定源,使用绝对标定过的Si(Li)探测器对X光管出射的特征线谱进行强度和谱测量.结合X光管空间分布均匀的特点,计算进入弯晶谱仪的光子数目,采取了特征谱扣去轫致谱的计数处理方法,得到了17 keV和19keV处弯晶谱仪的绝对效率,分别为4.32×10-4和3.94×10-4.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	苏明	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	14	24	3.0	4.0
2	王峰	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	59	126	7.0	8.0
3	刘慎业	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	113	323	9.0	11.0
4	杨国洪	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	52	217	8.0	12.0
5	韦敏习	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	28	56	4.0	6.0
6	徐涛	中国工程物理研究院激光聚变研究中心	56	190	8.0	10.0