Z箍缩软X射线辐射能量薄膜量热计改进技术

• 作者: 李沫 王亮平
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 物理学
• 关键词: 薄膜量热计 总能量测量 Z箍缩 等离子体 铝丝阵
• 年，卷（期）: 2013,（8）
• 所属期刊栏目: 脉冲功率技术
• 页码范围: 2142-2146
• 页数: 5页
• 分类号: O536
• 字数: 2940字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/HPLPB20132508.2142

摘要

薄膜量热计是进行Z箍缩辐射总能量测量的主要手段之一,准确可信的总能量参数对Z箍缩研究具有重要意义.对薄膜量热计装置进行技术改进,采用脉冲恒流源代替脉冲恒压源驱动镍薄膜量热计,撤除了回路中的串接电阻,可直接测量薄膜探测器的电阻变化,从而有效提高了辐射总能量测量的精度,拓宽了该设备的适用范围,使其可对目前“强光一号”加速器Z箍缩实验中所有典型负载进行测量.改进后平面型铝丝阵负载实验中总能量测量的相对不确定度由49.0％降低为19.6％.与闪烁探测系统功率测量结果积分值进行了对比,二者比值在0.87～1.04之间.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王亮平		42	249	9.0	13.0
2	李沫		3	6	1.0	2.0