软X射线测量用电阻式薄膜量热计

• 作者: 于治国 任晓东 但加坤 周少彤 张思群 徐强 李晶 欧阳凯 王昆仑 蔡红春 黄显宾
• 来源期刊: 强激光与粒子束
• 学科: 物理学
• 关键词: 软X射线 薄膜量热计 Z箍缩 等离子体 X射线诊断
• 年，卷（期）: 2016,（7）
• 所属期刊栏目: 脉冲功率技术
• 页码范围: 075007-1-075007-6
• 页数: 1页
• 分类号: O53|O572
• 字数: 3977字
• 语种: 中文
• DOI: 10.11884/HPLPB201628.075007

摘要

介绍了一种用于软X射线辐射能量测量的电阻式薄膜量热计。利用电流的欧姆热效应对薄膜量热计的灵敏度进行了标定。在有基底薄膜的标定过程中，采用一维热扩散模型，考虑了金属薄膜向基底的传导热损失。利用电阻式薄膜量热计对聚龙一号装置钨丝阵 Z 箍缩产生的软 X 射线进行了测量，并与平响应 X射线二极管（XRD）探测器的测量结果进行了比较。实验结果表明，电阻式薄膜量热计测量的软 X 射线辐射能量和辐射功率与平响应 XRD 探测器结果在测量不确定度范围内合理地一致。