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摘要:
随着半导体工艺的发展,器件的速度越来越快,栅氧化层的厚度也越来越薄,因此如何对该工艺进行精确控制成为了保证器件性能的关键。本文主要介绍了在垂直式炉管上如何对该工艺进行管控。
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文献信息
篇名 垂直式炉管栅氧化工艺的精确控制
来源期刊 才智 学科
关键词 栅氧化 工艺控制 垂直式炉管
年,卷(期) 2013,(23) 所属期刊栏目 科建园地 Cybertecture Field
研究方向 页码范围 256-256
页数 1页 分类号
字数 2169字 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 翟志刚 2 0 0.0 0.0
2 朱立平 2 0 0.0 0.0
3 高文文 2 0 0.0 0.0
4 李远哲 1 0 0.0 0.0
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1999(1)
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2013(0)
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研究主题发展历程
节点文献
栅氧化
工艺控制
垂直式炉管
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
才智
旬刊
1673-0208
22-1357/C
大16开
吉林省长春市
2001
chi
出版文献量(篇)
95950
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386
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