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关于数字电路的故障测试方法研究
关于数字电路的故障测试方法研究
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摘要：
本文分析了设备中数字电路故障产生的主要原因,介绍数字电路产生的逻辑故障以及检测的方法.更加有效的用于现代数字电路设备的故障诊断及其检测,可以更好地提升故障诊断率并且可以加快维修速率.
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研究主题发展历程
节点文献
数字电路
故障
测试
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相关学者/机构
期刊影响力
数字技术与应用
主办单位：
天津市电子仪表信息研究所
出版周期：
月刊
ISSN：
1007-9416
CN：
12-1369/TN
开本：
16开
出版地：
天津市
邮发代号：
6-251
创刊时间：
1983
语种：
chi
出版文献量（篇）
20434
总下载数（次）
106
总被引数（次）
35701
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