关于数字电路的故障测试方法研究

• 作者: 王元元
• 来源期刊: 数字技术与应用
• 学科: 工学
• 关键词: 数字电路 故障 测试
• 年，卷（期）: 2013,（2）
• 页码范围: 87
• 分类号: TN79
• 字数: 2198字
• 语种: 中文

摘要

本文分析了设备中数字电路故障产生的主要原因,介绍数字电路产生的逻辑故障以及检测的方法.更加有效的用于现代数字电路设备的故障诊断及其检测,可以更好地提升故障诊断率并且可以加快维修速率.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王元元		3	5	1.0	2.0