Soc芯片测试技术的发展趋势及挑战

• 作者: 路承禹
• 来源期刊: 中国电子商务
• 学科: 工学
• 关键词: SOC 芯片 测试 技术 发展
• 年，卷（期）: 2013,（18）
• 所属期刊栏目: 科技研究
• 页码范围: 75
• 页数: 1页
• 分类号: TN47
• 字数: 2220字
• 语种: 中文

摘要

SOC是微电子设计领域的一场革命,从整个系统的角度出发把智能核、信息处理机制、模型算法、芯片结构、各层次电路直至器件的设计紧密结合起来,在单个或少数几个芯片上完成整个系统的功能,本文介绍SOC测试技术的基本技术特点和应用概念；了解SOC测试技术发展趋势；分析SOC测试技术发展面临的问题及SOC芯片测试技术新的发展方向；通过本文讨论SOC测试技术的未来发展之路.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	路承禹		1	3	1.0	1.0