高温贮存寿命评估试验

• 作者: 俞浩新 凌勇 管光宝
• 来源期刊: 电子与封装
• 学科: 工学
• 关键词: 长期贮存寿命 失效模式 高温
• 年，卷（期）: 2014,（5）
• 页码范围: 37-41
• 页数: 5页
• 分类号: TN306
• 字数: 3068字
• 语种: 中文

摘要

元器件分别进行常温储存试验和高温贮存试验，通过常温储存试验累积试验数据并以此研究总结元器件长期储存性能参数变化规律和失效模式。通过高温贮存试验加速元器件常温储存过程累积试验数据，根据关键参数随加速试验的变化情况，得到高温贮存条件相对常温储存条件的加速因子，根据加速因子得到加速贮存试验的时间，在该高温点下进行相应时间的加速贮存试验。试验结果即为常温特定年限储存寿命的预计结果，从而在较短的时间内对元器件长期储存寿命做出评定。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	管光宝		4	11	2.0	3.0
2	凌勇		5	8	2.0	2.0
3	俞浩新		1	4	1.0	1.0