基于光电场传感器的劣化绝缘子检测系统

• 作者: 方书博 李兵 李炼炼 程鹏 邓慰 郑中胜
• 来源期刊: 电瓷避雷器
• 学科: 工学
• 关键词: 劣化绝缘子 Pockels效应 BGO晶体 光学传感器 带电检测
• 年，卷（期）: 2014,（6）
• 所属期刊栏目: 绝缘子
• 页码范围: 38-44
• 页数: 7页
• 分类号: TM216
• 语种: 中文

摘要

基于Ansofi Maxwell软件的仿真建模,研究了BGO晶体测量绝缘子电场强度的有效空间范围,在此基础上设计了一种基于光电场传感器的劣化绝缘子带电检测系统.现场试验结果表明,这种劣化绝缘子带电检测系统对于输电线路上的劣化绝缘子具有良好的检测作用,可适用于绝缘子的故障检测.