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Layer-by-Layer Analysis of the Composition of Thin Films by SIMS and Raman Spectroscopy
Layer-by-Layer Analysis of the Composition of Thin Films by SIMS and Raman Spectroscopy
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摘要：
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节点文献
拉曼光谱
SIMS
化学组成
薄膜
磁控溅射
氢扩散
纳米晶体
质谱法
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
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期刊影响力
化学与化工：英文版
主办单位：
美国大卫出版公司
出版周期：
月刊
ISSN：
1934-7375
CN：
开本：
出版地：
武汉洪山区卓刀泉北路金桥花园C座4楼
邮发代号：
创刊时间：
语种：
出版文献量（篇）
1069
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2
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