桥接故障的物理提取和高效测试

• 作者: 韦素芬
• 来源期刊: 集美大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 桥接故障 故障候选点 确定性桥接故障 测试覆盖率
• 年，卷（期）: 2014,（4）
• 所属期刊栏目: 数理科学与信息工程
• 页码范围: 314-320
• 页数: 7页
• 分类号: TN407|TP391.7
• 字数: 3431字
• 语种: 中文

摘要

为桥接故障候选点建立7种基于版图的物理模型,给出提取故障候选点的方法.为了更有效地利用芯片设计周期,减少测试图形数量,提出一种以确定性桥接故障测试为主体,有效结合内置多重固定测试的综合型测试方法.用90 nm的两个芯片进行自动测试图形生成和验证,从生成测试图形的时间长度、测试图形的数量、桥接故障测试覆盖率3个主要方面来对比,验证了该综合型测试方法的有效性.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韦素芬	集美大学信息工程学院	4	9	2.0	3.0