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高精度芯片测试仪的设计与实现
波形发生器
精密电源
测试
芯片
一种FPGA芯片时钟SKEW的测试方法
FPGA
SKEW
环形振荡器
测试
基于时钟移相相或的高精度脉冲对产生方法
超分辨率三维选通成像
脉冲对精度
时钟移相相或
支持JTAG协议的芯片测试时钟的解决方案
JTACG协议
系统逻辑
时钟端口
内容分析
关键词云
关键词热度
相关文献总数  
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文献信息
篇名 高精度时钟芯片的测试方法介绍
来源期刊 混合微电子技术 学科 工学
关键词 高精度时钟芯片 DS3231芯片 J750Ex测试机 I2C总线协议
年,卷(期) 2014,(2) 所属期刊栏目
研究方向 页码范围 67-71
页数 5页 分类号 TH714
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 武新郑 中国电子科技集团公司第五十八研究所 3 3 1.0 1.0
传播情况
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引文网络
引文网络
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参考文献  (0)
节点文献
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二级引证文献  (0)
2014(0)
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研究主题发展历程
节点文献
高精度时钟芯片
DS3231芯片
J750Ex测试机
I2C总线协议
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
混合微电子技术
季刊
安徽省合肥市6068信箱(合肥市绩溪路260号)
出版文献量(篇)
1458
总下载数(次)
46
总被引数(次)
0
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