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摘要:
本文从分析处理器验证、测试面临的危机入手,着重研究处理器硅后和运行时验证、测试技术,在对比了多核处理器的硅后和运行时验证、测试技术的基础之上,得出对未来多核/众核处理器的验证启示.
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文献信息
篇名 处理器验证测试的研究与启示
来源期刊 高性能计算技术 学科 工学
关键词 处理器 验证 测试 硅后 运行时
年,卷(期) 2014,(2) 所属期刊栏目 高性能计算软件前沿技术学术研究专刊
研究方向 页码范围 68-73
页数 6页 分类号 TP311
字数 语种 中文
DOI
五维指标
作者信息
序号 姓名 单位 发文数 被引次数 H指数 G指数
1 李岱峰 5 5 2.0 2.0
2 王丽一 6 9 2.0 3.0
传播情况
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2007(1)
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研究主题发展历程
节点文献
处理器
验证
测试
硅后
运行时
研究起点
研究来源
研究分支
研究去脉
引文网络交叉学科
相关学者/机构
期刊影响力
高性能计算技术
双月刊
32-1679/TP
江苏省无锡33信箱353号
chi
出版文献量(篇)
1235
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12
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