8-羟基脱氧鸟苷在壳聚糖/石墨烯修饰电极上的电化学及DNA氧化损伤检测

• 作者: 安玲玲 杜江燕 路毛凤 邓玲玲
• 来源期刊: 应用化学
• 学科: 化学
• 关键词: 羟基脱氧鸟苷 壳聚糖 石墨烯 DNA氧化损伤 电化学检测
• 年，卷（期）: 2014,（2）
• 所属期刊栏目: 研究论文
• 页码范围: 200-205
• 页数: 6页
• 分类号: O657.1
• 字数: 4421字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3724/SP.J.1095.2014.30179

摘要

采用循环伏安(CV)、线性扫描伏安(LSV)和示差脉冲伏安(DPV)等方法研究了8-羟基脱氧鸟苷(8-OHdG)在壳聚糖(Chi)/石墨烯(GR)修饰的玻碳电极(GCE)上的电化学行为,8-OHdG在该修饰电极上氧化峰电流与其浓度在3.5 ×10-7～1.4×10-4 moL/L范围内呈良好的线性关系,检测限为6.4×10-8 moL/L(S/N =3).将Chi/GR/GCE用于检测DNA氧化损伤,8-OHdG在修饰电极上的氧化峰电流与损伤的DNA质量浓度在10～300 mg/L范围内呈良好的线性关系,损伤DNA检出限为0.026 mg/L(S/N=3).

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	杜江燕	南京师范大学化学与材料科学学院	32	217	8.0	13.0
7	安玲玲	南京师范大学化学与材料科学学院	2	12	2.0	2.0
11	路毛凤	南京师范大学化学与材料科学学院	1	2	1.0	1.0
12	邓玲玲	南京师范大学化学与材料科学学院	1	2	1.0	1.0