SrBi2Ta2O9/LaNiO3异质结薄膜的铁电、磁性能及漏电流研究

• 作者: 刘秋香 李万朋
• 来源期刊: 广东工业大学学报
• 学科: 化学
• 关键词: 钽酸锶铋 漏电流密度 铁电 铁磁
• 年，卷（期）: 2014,（2）
• 所属期刊栏目: 综合研究
• 页码范围: 117-120,138
• 页数: 5页
• 分类号: O611
• 字数: 3164字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.1007-7162.2014.02.023

摘要

采用溶胶凝胶方法在Si(100)衬底上生长了SrBi2Ta2O9/LaNiO3(SBT/LNO)异质结薄膜,其中SrBi2Ta2O9薄膜呈高度(115)取向.测量了不同退火温度下异质结的电滞回线和漏电流密度,结果表明,700℃下退火的薄膜剩余极化值最高,漏电流最低,且表现出弱的室温铁磁行为.漏电流机理分析表明薄膜界面为欧姆接触.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	刘秋香	广东工业大学物理与光电工程学院	13	46	4.0	6.0
2	李万朋	广东工业大学物理与光电工程学院	2	4	1.0	2.0