功率 MMIC 芯片加速寿命试验方法研究

• 作者: 周俊 高立
• 来源期刊: 新型工业化
• 关键词: 微波技术 单片微波集成电路 加速寿命
• 年，卷（期）: 2014,（7）
• 所属期刊栏目: 设计与研究
• 页码范围: 35-40
• 页数: 6页
• 字数: 3433字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3969/j.issn.2095-6649.2014.7.04

摘要

本文分析了单片微波集成电路（MMIC）芯片的主要失效模式和失效机理，其与 MESFET 等有源器件的主要失效模式和失效机理基本相似，并简要介绍了加速寿命的试验原理。基于此，研究给出了包括试验样品的预处理、敏感参数及失效判据的确定、温度应力的选取、失效分析和数据处理等内容的功率 MMIC 芯片的加速寿命试验方法。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	周俊		10	14	2.0	3.0
2	高立		4	8	2.0	2.0