纳米光束的X射线散射探测纳米物质

• 作者: Julian Stangl 聂树真
• 来源期刊: 国外科技新书评介
• 学科: 工学
• 关键词: X射线散射 纳米物质 聚焦光束 探测 非破坏性分析 晶体结构 物理性质 化学组成
• 年，卷（期）: 2014,（4）
• 页码范围: 18-18
• 页数: 1页
• 分类号: TB383

摘要

X射线散射技术是一种较常用的非破坏性分析技术，可用于揭示物质的晶体结构、化学组成以及物理性质。利用纳米聚焦光束的X射线散射技术来研究纳米尺度的物质特性是本书的主旨，

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	聂树真	中国科学院光电研究院	54	7	1.0	2.0