基于隐失场的基底纳米微粒的力学分析

• 作者: 王扬 郑纯 马丽心
• 来源期刊: 哈尔滨商业大学学报（自然科学版）
• 学科: 工学
• 关键词: 近场光镊 原子力显微镜 纳米量级微观力
• 年，卷（期）: 2014,（5）
• 所属期刊栏目: 机械与能源工程
• 页码范围: 574-576
• 页数: 3页
• 分类号: TB383
• 字数: 1827字
• 语种: 中文

摘要

针对光纤探针复合原子力显微镜（ AFM ）作用于纳米量级物体分析的操作，对纳米微粒、探针、基底之间作用力规律进行初步分析。指出纳米微粒所受的主要作用力为范德华力、毛细作用力、微观接触斥力、微观摩擦力和静电力等，通过纳米微粒受力分析并确定出微粒和探针之间距离的关系曲线，达到有利于控制纳米微粒精确操作的目的。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	王扬	哈尔滨工业大学机电工程学院	110	956	19.0	24.0
2	马丽心	哈尔滨商业大学轻工学院	35	146	5.0	11.0
3	郑纯	哈尔滨商业大学轻工学院	2	1	1.0	1.0