光谱宽度与光束截面因子对平面光栅衍射效率测量的影响

• 作者: 吴娜 崔继承 巴音贺希格 曹海霞 潘明忠
• 来源期刊: 光学精密工程
• 学科: 物理学
• 关键词: 平面光栅 衍射效率 二次完全式回归分析 光谱宽度 光束截面因子
• 年，卷（期）: 2014,（3）
• 所属期刊栏目: 现代应用光学
• 页码范围: 562-568
• 页数: 7页
• 分类号: O436.1|O433.4
• 字数: 3710字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/OPE.20142203.0562

摘要

为了进一步提高平面光栅衍射效率测试仪的测量精度,分析了影响平面光栅衍射效率测量值的主要因素.根据平面光栅相对衍射效率测量原理,提出光束截面因子的概念并推导出了平面光栅光束截面因子k(θ)的解析表达式.进一步分析了影响衍射效率测量值的因素(光谱宽度与光束截面因子),并结合衍射效率测量值定义了两个用于回归分析的自变量.针对作为因变量的理论值与所定义自变量之间存在的非线性关系,提出了采用二次完全式回归分析的数学方法,进而建立了提高衍射效率测量精度的修正公式.结果表明:对平面光栅衍射效率测量值进行修正后,修正值与理论值之间的误差可控制在±0.5％以内,提高了衍射效率的测量精度,改进了衍射效率测试仪的整机性能.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	巴音贺希格	中国科学院长春光学机密机械与物理研究所	112	817	16.0	23.0
2	潘明忠	中国科学院长春光学机密机械与物理研究所	26	176	8.0	12.0
3	崔继承	中国科学院长春光学机密机械与物理研究所	50	395	12.0	17.0
4	吴娜	中国科学院长春光学机密机械与物理研究所	20	91	6.0	9.0
5	曹海霞	中国科学院长春光学机密机械与物理研究所	5	32	4.0	5.0