气体放电对PDP残像形成的影响及其改善研究

• 作者: 韦海成
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: 等离子显示器 运动检测 残像
• 年，卷（期）: 2014,（2）
• 所属期刊栏目: 器件物理及器件制备技术
• 页码范围: 207-212
• 页数: 6页
• 分类号: TN873.94|TN27
• 字数: 4746字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/YJYXS20142902.0207

摘要

针对等离子体显示器维持期气体放电过程引起的PDP残像,研究了持续气体放电过程对残像可恢复性的影响以及相同放电条件下显示单元三基色亮度变化情况,分析了气体放电过程与PDP残像形成之间的关系,提出了通过调整PDP显示过程中工作气体的放电强度,补偿气体放电过程引起亮度差异的方法来减轻显示残像,改善残像对显示画质影响的方法.实验结果表明,该方法能够减少残像产生后的恢复时间,改善显示残像,提高显示图像画质.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	韦海成	北方民族大学电气与信息工程学院	24	46	4.0	5.0