TFT-LCD背板设计对线残像改善的研究

• 作者: 刘文瑞 刘耀 吕耀朝 吴洪江 廖加敏 张洪林 杨虹 林鸿涛 王进 贠向南 陈曦
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: 线残像 公共电压畸变 背板设计
• 年，卷（期）: 2018,（8）
• 所属期刊栏目: 材料与器件
• 页码范围: 625-630
• 页数: 6页
• 分类号: TN141
• 字数: 3588字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/YJYXS20183308.0625

摘要

线残像一直是TFT LCD行业中一个重点改善的不良之一.为了解决该不良,本文通过对不同样品进行线残像评价及测试公共电极电压的畸变情况,从TFT-LCD背板设计方面研究了公共电极电压的畸变对线残像的影响.首先,通过激光熔接的方法将屏内的公共电极电压信号引出,然后测出在信号线电压作用下的公共电极电压发生畸变的幅值,最后将该幅值和实测的线残像水平进行了对比,同时对不同信号线数量、信号线和公共电极的交叠面积、信号线与公共电极的距离、外围电路补偿等相关设计的测试和研究.结果表明:公共电极电压的畸变程度与线残像水平具有对应性;信号线数量与公共电极电压畸变幅值成比例关系;信号线与公共电极线的单位交叠面积从66 μm2降到37 μm2时,其公共电极电压畸变程度降低了63％;增大公共电极与信号线之间的距离有助于改善甚至消除线残像,当距离从1.49 μm增大到2.39 μm时,公共电极电压畸变幅值减小了28％.通过降低信号线数量、降低信号线和公共电极线的交叠面积、增大信号线和公共电极的距离、外围电路补偿等方案均可改善线残像水平,对TFT-LCD画面显示品质的提高具有重要指导意义.