TFT-LCD中驱动信号与线残像的关系研究

• 作者: 刘耀 吴洪江 庄子华 张洪林 李大海 林琳琳 林鸿涛 贠向南 赖意强 陈曦
• 来源期刊: 液晶与显示
• 学科: 工学
• 关键词: 线残像 畸变 驱动信号反转方式 驱动信号电压
• 年，卷（期）: 2018,（5）
• 所属期刊栏目: 材料与器件
• 页码范围: 375-380
• 页数: 6页
• 分类号: TN141
• 字数: 3135字
• 语种: 中文
• DOI: 10.3788/YJYXS20183305.0375

摘要

通过对薄膜晶体管液晶显示器(TFT-LCD)产品易产生线残像的问题进行研究,考察了不同驱动信号电压及反转方式与线残像之间的关系.结果表明,通过减小驱动信号线电压,或提高驱动信号的反转频率,均可降低公共电极与信号线的耦合程度.当灰阶电压由L255减小为L46,耦合电压幅值由240 mV降为34.8 mV;当驱动信号方式由帧反转变为点反转时,耦合电压幅值由112.6 mV降为63.1 mV,有效地改善了线残像,并利用德拜弛豫公式分析了驱动信号反转对线残像的作用机理,为线残像的分析和改善提供了理论依据和解决方向.