单模光纤宏弯损耗性能的试验研究

• 作者: 冯艳 张华 彭星玲 李玉龙
• 来源期刊: 光通信技术
• 学科: 工学
• 关键词: 单模光纤 宏弯损耗 WGM 涂敷层
• 年，卷（期）: 2014,（7）
• 所属期刊栏目: 光器件
• 页码范围: 1-3
• 页数: 3页
• 分类号: TN818|TN253
• 字数: 2683字
• 语种: 中文

摘要

研究了两种光纤(SMF28和1060XP)在波长1310nm处、弯曲半径5～ 15mm范围内的宏弯损耗性能.观察到了两种光纤宏弯损耗整体都随着弯曲半径增大而减小,并伴有振荡现象,其中1060XP光纤对宏弯损耗更敏感.用耦合模理论解释了WGM (whispering-gallery mode)对光纤宏弯损耗振荡的影响.测量了1060XP光纤涂覆层黑化后的宏弯损耗,结果表明:将光纤涂覆层烤黑能够减轻光纤宏弯损耗振荡.

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	张华	江西省南昌大学机器人与焊接自动化重点实验室	18	38	3.0	6.0
2	冯艳	江西省南昌大学机器人与焊接自动化重点实验室	3	2	1.0	1.0
3	彭星玲	江西省南昌大学机器人与焊接自动化重点实验室	1	2	1.0	1.0
4	李玉龙	江西省南昌大学机器人与焊接自动化重点实验室	2	2	1.0	1.0