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系统跟踪宏单元在高性能SoC系统调试上更具优势
系统跟踪宏单元在高性能SoC系统调试上更具优势
作者:
Balatripura Chavali
Laura Reese
Todd Koelling
基本信息来源于合作网站,原文需代理用户跳转至来源网站获取
摘要:
CoreSightTM系统跟踪宏单元(System Trace Macrocell,STM)在7方面要明显优于仪表跟踪宏单元(Instrumentation Trace Macrocell,ITM).对于在高性能FPGA架构中采用了ARM@Cortex@-A9应用处理器的现代SoC FPGA,从性能到数据质量,STM是更适合的调试宏单元.本文讨论这些不同之处.
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篇名
系统跟踪宏单元在高性能SoC系统调试上更具优势
来源期刊
中国集成电路
学科
关键词
年,卷(期)
2014,(12)
所属期刊栏目
企业与产品
研究方向
页码范围
92-94
页数
3页
分类号
字数
2642字
语种
中文
DOI
五维指标
作者信息
序号
姓名
单位
发文数
被引次数
H指数
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1
Balatripura Chavali
1
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Todd Koelling
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中国集成电路
主办单位:
中国半导体行业协会
出版周期:
月刊
ISSN:
1681-5289
CN:
11-5209/TN
开本:
大16开
出版地:
北京朝阳区将台西路18号5号楼816室
邮发代号:
创刊时间:
1994
语种:
chi
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4772
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6
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7210
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