绝缘子污秽度监测方法研究

• 作者: 檀晓龙 王登菊 蔡盛舟 陈仁军
• 来源期刊: 电工电气
• 学科: 工学
• 关键词: 绝缘子 污秽 电量监测方法 非电量监测方法
• 年，卷（期）: 2014,（9）
• 所属期刊栏目: 现状与展望
• 页码范围: 9-11,20
• 页数: 4页
• 分类号: TM216
• 字数: 2617字
• 语种: 中文

摘要

及时掌握绝缘子表面污秽程度并采取措施能有效减少污闪事故的发生。介绍了泄漏电流法、等值盐密法、表面污层电导率法、污闪电压梯度法和脉冲电流法的电量监测方法以及微波辐射法、声发射监测法和红外成像监测法的非电量监测方法，并对它们的优缺点进行了分析。绝缘子发生污闪是温度、湿度、运行电压等多因素综合的结果，指出绝缘子污秽度监测研究方向，应建立多因素、多参量的综合性的监测方法。

作者信息

序号	姓名	单位	发文数	被引次数	H指数	G指数
1	陈仁军		7	15	2.0	3.0
2	蔡盛舟		5	17	2.0	4.0
3	檀晓龙		5	9	2.0	3.0
4	王登菊		7	18	2.0	4.0